BTC $67 359 -0.21%Золото $2 341 +0.55%USD/RUB 93.42 +0.43%EUR/RUB 101.77 +0.38%Brent $67.24 -0.81%МосБиржа 2 854 +1.02%BTC $67 359 -0.21%Золото $2 341 +0.55%USD/RUB 93.42 +0.43%EUR/RUB 101.77 +0.38%Brent $67.24 -0.81%МосБиржа 2 854 +1.02%BTC $67 359 -0.21%Золото $2 341 +0.55%USD/RUB 93.42 +0.43%EUR/RUB 101.77 +0.38%Brent $67.24 -0.81%МосБиржа 2 854 +1.02%
Технологии
PT
Korp&Co visual
Positive Technologies представила первый российский лазер для взлома чипов
#59922 · 06.06.2026
Технологии

Positive Technologies представила первый российский лазер для взлома чипов

Исследователи Positive Technologies представили комплекс для поиска уязвимостей в микроэлектронике, который имитирует физические атаки на аппаратном уровне. Технология позволяет проверять устойчивость чипов к извлечению данных и обходу встроенных систем защиты, закрывая потребность рынка в импортозамещении оборудования для аудита безопасности электроники.

Исследователи Positive Technologies представили комплекс для поиска уязвимостей в микроэлектронике, который имитирует физические атаки на аппаратном уровне. Технология позволяет проверять устойчивость чипов к извлечению данных и обходу встроенных систем защиты, закрывая потребность рынка в импортозамещении оборудования для аудита безопасности электроники.

Разработка закрывает критический пробел в российском инструментарии безопасности. До 2022 года специалисты полагались на решения зарубежных поставщиков, таких как французская Alphanov и нидерландская Riscure. Теперь отечественные компании получили возможность самостоятельно тестировать как импортные компоненты, так и собственные разработки, изучая их внутреннюю структуру и каналы утечки данных.

Установка моделирует сценарии реальных атак, анализируя энергопотребление и электромагнитное излучение чипов в процессе работы. Спектр применения устройства охватывает критически важные системы: от банковских карт, терминалов и криптографических модулей до автомобильной электроники, промышленного оборудования и космической техники. Подобные методы исследования позволяют выявлять слабые места в архитектуре микросхем на этапе проектирования, предотвращая использование уязвимостей злоумышленниками в готовых продуктах.

Комментарии (0)

Оставить комментарий

Пока нет комментариев. Будьте первым!